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    菲希爾X射線測厚儀

    ]資料
    如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: 菲希爾X射線測厚儀
    產品型號: X-RAY XUL
    產品展商: 德國菲希爾Fischer
    關注指數:7581
    產品文檔: 無相關文檔
    咨詢電話:0512-68050030
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    簡單介紹
    菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。菲希爾X射線測厚儀又名菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀,X-RAY XUL系列分為固定平臺的XUL和手動平臺XUL-xym

    菲希爾X射線測厚儀

       的詳細介紹

    菲希爾X射線測厚儀
    FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®

    FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射線光譜儀,主要用于無損厚度測量和成分析。
    菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了

    XULX射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。


    本款儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

    典型的應用領域有:

                  在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量

                  在連接器和電氣元件上的測量

                  電鍍液的溶液成分分析

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM設計理念

    FISCHERSCOPE X-RAY XUL設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應不同的樣品平臺:

    XUL: 固定平面平臺

    XUL XYm: 手動X/Y平臺

    高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。

    盡管儀器本身結構緊湊,但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。

    外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。

    通過強大而界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。

    XUL型光譜儀是**而保護**的測量儀器,型式許可符合德國Deutsche Röntgenverordnung-RöV法令要求。

     

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM通用規范

    用途

    能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析

    可測量元素范圍

    從氯(17)到鈾(92),如使用選配的WinFTM® BASIC,可多同時測量24種元素

    設計理念

    臺式儀器,測量門向上開啟

    測量方向

    由下往上

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線源

    X射線靶材

    帶鈹窗口的鎢靶射線管

    高壓

    三種可調高壓:30 kV,40 kV,50 kV

    孔徑(準直器)

    圓形Ø 0.3mm ,(可選配置:矩形0.3 mm x 0.05 mm

    測量點大小

    取決于測量距離和使用的準直器的大小,視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸,小的測量點面積約為Ø 0.51 mm。

    測量距離,如樣品為腔體時

    使用保護的DCM(測量距離補償法)功能:

    測量距離為0 ~ 20 mm時,為已校準范圍;

    測量距離為20 ~ 27.5 mm時,為非校準范圍。

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線探測

    X射線接收器

    比例接收器

    二次濾波器

    可選:鈷濾波器或鎳濾波器

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品定位

    視頻顯微鏡

    高分辨率 CCD彩色攝像頭,可用來觀察測量位置 十字線帶有刻度尺和測量點指示裝置

    測量區域的LED照明亮度可調節

    放大倍數

    38 x ~184x (光學變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品臺

    樣品臺

    XUL

    XUL XYm

    設計

    固定樣品平臺

    手動XY平臺

    X/Y方向大可移動范圍

    -

    50 x 50 mm

    樣品放置可用區域

    250 x 280mm

    樣品大重量

    2kg

    樣品高度

    240mm

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM電氣參數

    電壓,頻率

    AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

    功率

    大為 120 W (測量頭重量,不包括計算機)

    保護等級

    IP40

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM儀器規格

    外部尺寸

    xx[mm]395 x 580 x 510

    重量

    45 kg

    內部測量艙尺寸

    xx[mm]360 x 380 x 240

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM環境要求

    測量時溫度

    10°C – 40°C / 50°F – 104°F

    存儲或運輸時溫度

    0°C – 50°C / 32°F – 122°F

    空氣相對濕度

    ≤ 95 %,無結露

     

    菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM計算系統

    計算機

    帶擴展卡的Windows®個人計算機系統

    軟件

    標準配置:Fischer WinFTM® LIGHT

    可選配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER

    執行標準

    CE合格標準

    EN 61010

    X射線標準

    DIN ISO 3497ASTM B 568

    型式許可

    型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器

     

    fischer X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM訂貨號

    FISCHERSCOPE X-RAY XUL

    603-029

    FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm

    603-131

    如有特殊要求,可與Fischer磋商,定制特殊的XUL型號。


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    Fischer基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。
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